GAM-100薄膜纳米孔径分析仪


  

【产品介绍】

鲁汶仪器专利产品,世界首台套在常温常压下即可表征薄膜孔径大小、孔径分布、孔隙率、缺陷分析、折射率、膜层厚度等参数的设备

【产品特点】

l 由椭偏系统、气液混合系统、电气控制系统、控制软件等组成,具有椭偏仪的所有功能

l 可以检测200mm及以下尺寸样品,可扩展至300mm

l 没有传统压氮、压汞法损坏昂贵样品的弊端

l 无需真空系统,整个吸附、脱附过程只需要几分钟即可完成

l 数据库中包含常规薄膜材料的光学数据,方便对设备进行调试、校准

l 配有全自动控制软件,可以全自动控制样品的吸附、脱附过程,并完成数据分析

l 分析计算软件用于数据分析和制图,可以分析孔径大小及分布、平均孔径大小、孔隙率等参数


【产品配置及指标】

l 可表征样品大小:  200mm300mm

l 椭偏系统:             1套;

l 气液混合系统:      1套;

l 电气控制系统:      1套;

l 全自动控制软件:  1套;

l 数据分析软件:      1套;

l 波长范围:             370-1050nm,可根据用户需求调整;

l 孔径大小及分布:  0.5nm-50nm

l 孔隙率:                 0-95%
 

【主要应用】
 
应用于Low-K材料、薄膜电池、生物医药、太阳电池等领域,表征的材料:多孔SiO2、多孔有机薄膜

地址:江苏省邳州市海河西路16号 电话:+86 516 86291377

邮箱:sales@leuven-instruments.com